Basiskurs
: Statistical Process Control (SPC)

Zielgruppe

Mitarbeitende der Halbleiterfertigung und -forschung

Ort

Manfred-von-Ardenne-Ring 20, Haus A
01099 Dresden

Kurstermine

2 Tage, 8 - 15 Uhr

Ziel

Die Lehrgangteilnehmer werden in die Lage versetzt, Qualitätsregelkarten zu erstellen und zu führen. Damit können fehlerhafte Anlagenzustände, die zu Ausschuss-Teilen führen, zeitig genug erkannt werden. Die Anlageneinstellungen werden so rechtzeitig korrigiert, so dass kein Ausschuss auftreten kann.

Inhalt

Es werden die Kenntnisse des Kurses „Grundlagen der Statistik“ vorausgesetzt.

  • Grundprinzip von SPC
  • Zu überwachende Merkmalsarten
  • Vorbereitende Arbeiten für SPC
  • Diskrete Verteilungen für SPC
  • Stetige Verteilungen für SPC
  • Zufallsstreubereiche von diskreten Verteilungen
  • Zufallsstreubereiche von stetigen Verteilungen
  • Arten von Qualitätsregelkarten
  • Berechnung der Grenzen von diskreten QRK (Qualitätsregelkarten)
  • Berechnung der Grenzen von Shewhart-QRK (Qualitätsregelkarten)
  • Berechnung der Grenzen von Annahme-QRK (Qualitätsregelkarten)
  • Führen von Qualitätsregelkarten – Stabilitätskriterien
  • Western-Electric-Rules
  • Übungen

Praxis

Aufgabenstellungen werden mit Excel-Arbeitsblättern gelöst

Teilnehmer

max. 12

Preisinfo

Preis auf Anfrage. Förderung mit Bildungsgutschein ist möglich.

Kontaktperson

Ralf Bormann

Fax

0351 - 8925 251